計量学

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: metrology(JCGM 200:2008) [1]


187918931556

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 metrology   μέτρονmetron, [2] λόγοςlogos, [3]Metrology 

[4][5]Metrology [6][7][8][8][9]

3[]

[10][11]

[12]measuring system[13]

[14]standard international standard, national standard, reference standard, working standard[15]

3[16][17]

definition

11/10000000198311/299792458[18] (SI) 2019

realisation

[18]

traceability

[16]辿primary standard[10]

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3[]


3[16]3

scientific metrology



industrial metrology



legal metrology



[19]

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 (SI) SI (2019)

[16]

-86[18]

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NMIJNIST[20]

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measuring instrument[21]




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 (CGPM) - 

 (CIPM) - 

 (BIPM) - 

 (OIML)

調 (JCDCMAS)

 (ISO)  (IEC)  (IUPAC)  (IUPAP) 貿 (WTO) [22]

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: national metrology institute, NMI[9]NMI[23]
機関 略称
アメリカ合衆国の旗 アメリカ合衆国 アメリカ国立標準技術研究所 NIST
イギリスの旗 イギリス イギリス国立物理学研究所 NPL
インドの旗 インド インド国立物理学研究所 NPL
オーストラリアの旗 オーストラリア オーストラリア連邦科学産業研究機構 CSIRO
大韓民国の旗 韓国 韓国標準科学研究院 KRISS
シンガポールの旗 シンガポール シンガポール科学技術研究庁 国立計量センター NMC/A*STAR
タイ王国の旗 タイ タイ国家計量標準機関 NIMT
中華人民共和国の旗 中華人民共和国 中国計量科学研究院 NIM
ドイツの旗 ドイツ ドイツ物理工学研究所 PTB
日本の旗 日本 産業技術総合研究所 計量標準総合センター NMIJ/AIST
フランスの旗 フランス フランス国立計量試験研究所 LNE

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NMIregional metrology organisation, RMO[24]RMO

 (APMP) - 

 (AFRIMETS) - 

 (SIM) - 
ANDIMET - 

CAMET - 

CARIMET - 

NORAMET - 

SURAMET - 

- (COOMET) - 

 (EURAMET) - 西

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(一)^ "Metrology includes all theoretical and practical aspects of measurement, whatever the measurement uncertainty and field of application." (JCGM 200:2008, §2.2)

(二)^ Liddell & Scott 1940, μέτρον.

(三)^ Liddell & Scott 1940, λόγος.

(四)^ ,  &  2012, p. 1.

(五)^ Howarth & Redgrave 2009, p. 7.

(六)^ Howarth & Redgrave 2009, p. 13.

(七)^ JIS Z 8103:2000, 2102.

(八)^ abJSTmetrologyJSThttp://ejje.weblio.jp/content/metrology 

(九)^ ab 2010514https://www.nmij.jp/~imco/yougo/ 

(十)^ abHowarth & Redgrave 2009, p. 19.

(11)^ Czichos, Saito & Smith 2011, p. 4.

(12)^ JIS Z 8103:2000, 2101.

(13)^ JIS Z 8103:2000, 2013.

(14)^ JIS Z 8103:2000, 2123.

(15)^ JIS Z 8103:2000, 21262129.

(16)^ abcdHowarth & Redgrave 2009, p. 14.

(17)^ Czichos, Saito & Smith 2011, p. 3.

(18)^ abcHowarth & Redgrave 2009, p. 56.

(19)^ ,  &  2012, p. 3.

(20)^  2002, p. 1.

(21)^ Howarth & Redgrave 2009, p. 26.

(22)^ NMIJ/AISThttps://www.nmij.jp/~imco/metric/2013714 

(23)^  - NMIJ/AISThttps://www.nmij.jp/~imco/link/2013714 

(24)^ Howarth & Redgrave 2009, p. 33.

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Czichos, Horst; Saito, Tetsuya; Smith, Leslie E., eds. (2011), Springer Handbook of Metrology and Testing, Springer, ISBN 978-3642166402 

Howarth, Preben; Redgrave, Fiona () ; ()  -3EURAMET20092008https://www.nite.go.jp/data/000001125.pdf 

Joint Committee for Guides in Metrology (2008), International vocabulary of metrology  Basic and general concepts and associated terms (VIM) (3rd ed.), JCGM 200:2008, ISO/IEC Guide 99:2007, http://www.iso.org/sites/JCGM/VIM-introduction.htm 

Liddell, Henry George; Scott, Robert (1940), A Greek-English Lexicon, Clarendon Press, http://www.perseus.tufts.edu/hopper/text?doc=Perseus%3atext%3a1999.04.0057 

2002ISBN 4-7856-9065-8 

2000JIS Z 8103:2000 

; ; 2︿KS2012ISBN 978-4061565111 

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