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フラッシュメモリ

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』
USBメモリの内部。基板上の最も大きなチップ(黒い大きな四角形の部品)がフラッシュメモリである。その隣の2番目に大きなチップはマイクロコントローラーである。

: Flash MemoryMOSFET[1][2][3]

[]


EEPROMROMEEPROM[ 1]

[]

NANDNOR[]


NANDNOR2

NAND型[編集]

  • ランダムアクセス読み出しの単位は1ブロック
  • NOR型に比べて読み出しは低速
  • NOR型に比べて書き込みは高速
  • NOR型に比べて高集積化に有利

NOR型[編集]

  • ランダムアクセス読み出しの単位はバイト
  • NAND型に比べて読み出しは高速
  • NAND型に比べて書き込みは低速
  • NAND型に比べて高集積化に不利

応用分野等[編集]


NORNANDNORNANDNOR

NOR使ROMROM

NAND

SLCとMLC[編集]


111Vth142(MLC)11(SLC)12MLCSLC23SLC144SLC18(TLC)(QLC)TLC83

SLCVthMLCTLC2MLCTLC2022SSDHDD

SLC (Single Level Cell):11211

MLC (Multi Level Cell):12413

TLC (Triple Level Cell):13817

QLC (Quadruple Level Cell):1416115

SLC

SLC11

 "Hi/Low" 2



510

MLCNAND

MLCTLCQLCNAND"Hi/Low"24816NANDSLC

MLCSLC14使PC

[]


Vpp()()ROM3.3VROM1.8VCore 1.8VI/O 3.3V使()

構造図[編集]

制約[編集]

ブロック消去[編集]



[]


PE  100,000P/E[4]

201212 : Macronix2012IEEE'': self-healing使NAND/10,00010""使[5]10[6][7]

[]


NAND'': disturb

X[]


: ball grid arrayBGAPCBBGAPCB: PCB AssemblyBGAXX"0""1""1"X[8][9]

XSD[10]USB[11]

[]


10%3TLC/QLC5MLC10SLC1[12][13][14][15]使

NOR20[16]BIOS使20[16]

寿[]


寿QLCTLCMLCSLC[17][ 2]NORNAND使使寿寿寿[18]

[19]

Intel63nm72nmMLC(2bit/)NAND8Gbit11100110001(8Gbit1000100)[20]

()使

ハードディスクからの転換[編集]


BIOSUSB( - )

2004 (HDD) 使SSD2006HDDSSD2007Windows VistaUSBHDD使Windows ReadyBoost2009Windows 7SSDHDD

2019HDD

[]


NORSRAM (bit)NANDDRAM ()I²C()

[]


NANDFusion-ioioDrive

ATA[21]

USB


SD





xD



PlayStation Vita


[]


20052006[22]

[23][24][25]

脚注[編集]

注釈[編集]

  1. ^ 構造からは「押し流す」=flushという感じだが、公称はflashである。
  2. ^ 製品やメーカーによってはメモリセル単体の寿命を1万回や10万回程度の保証としている(SPANSION社のフラッシュメモリデータシートによる)

[]



(一)^  @gendai_biz. . 2022531

(二)^ . (2017529). 2022531

(三)^ http://www.takeda-foundation.jp/reports/pdf/ant0104.pdf

(四)^ Jonathan Thatcher, Fusion-io; Tom Coughlin, Coughlin Associates; Jim Handy, Objective-Analysis; Neal Ekker, Texas Memory Systems (April 2009). NAND Flash Solid State Storage for the Enterprise, An In-depth Look at Reliability. Solid State Storage Initiative (SSSI) of the Storage Network Industry Association (SNIA). 14 October 2011. https://web.archive.org/web/20111014033413/http://snia.org/sites/default/files/SSSI_NAND_Reliability_White_Paper_0.pdf 2011126. 

(五)^ Taiwan engineers defeat limits of flash memory. phys.org. 201629202248

(六)^ Flash memory made immortal by fiery heat. theregister.co.uk. 2017913202248

(七)^ Flash memory breakthrough could lead to even more reliable data storage. news.yahoo.com. 20121221202248

(八)^  Richard Blish. "Dose Minimization During X-ray Inspection of Surface-Mounted Flash ICs" Archived 20 February 2016 at the Wayback Machine.. p. 1.

(九)^  Richard Blish. "Impact of X-Ray Inspection on Spansion Flash Memory" Archived 4 March 2016 at the Wayback Machine.

(十)^ SanDisk Extreme PRO SDHC/SDXC UHS-I Memory Card. 2016127201623

(11)^ Samsung 32GB USB 3.0 Flash Drive FIT MUF-32BB/AM. 201623201623

(12)^ 3  - PC Online

(13)^  NAND - PC Watch

(14)^ 3/5100 -  - ITpro

(15)^ IEDM 2008 - 

(16)^ abNOR FLASH FAQS - KBA222273 - Cypress Developer Community.   (2018326). 201867

(17)^ MemCon Tokyo 2007().  Impress Watch / PC Watch. 201335

(18)^ SSD - Hewlett-Packard

(19)^ 寿 - USB寿寿 - GIGAZINE

(20)^ IntelMicronNAND - PC Watch

(21)^ ATA - Weblio

(22)^  - All About

(23)^ 30008 - 47news

(24)^ NAND390 - BP TechOn

(25)^  NASDAQSpansion Inc. Spansion Japan  741 - 

[]


 19938http://www.science-forum.co.jp/podbooks/0174.htm 

[]






NAND

NOR

USBUSB



EEPROM

[]


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